Nikon MA200 Eclipse Inverted Microscope

Nikon MA200
Nikon MA200 Eclipse Inverted Microscope,坚固耐用,可满足高放大倍数需求。其非常适合进行平整样品表面的镶嵌样品分析,并可配备使用明场(BF)、暗场(DF)、微分干涉对比(DIC)和偏振光(POL)等光源进行多种分析。

下载

Buehler an ITW Company
产品